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[jtmetrologie] Journée Technique Métrologie du 29 septembre 2011 - Institut Pierre Vernier‏
mercredi 17 août 2011 , Sandrine Beaujon


La métrologie sous toutes "ses dimensions"

Jeudi 29 septembre 2011 à Besançon

Programme

09h00 Accueil des participants

09h10 Microscopie Confocale Optique : Métrologie et caractérisation 3D

Vincent LIEVREMONT - Olympus

9h40 La mesure dimensionnelle et son traitement

Philippe Puleo - Mecasem

- Les moyens, les méthodes, le traitement, l’étalonnage

- Introduction de la Tomographie et de la Profilométrie

Zoom sur…

10h25 La mesure Tridimensionnelle par Tomographie Rayons X

Jean-Pierre Triques – Werth

10h45 La Profilométrie

Isabelle Cauwet - Digitalsurf

11h05 Échanges de bonnes pratiques de Métrologie

Groupe de travail Métrologie du MFQ-FC

- Présentation du groupe de travail,

- La Métrologie autrement...

11h25 « La métrologie sensorielle une mesure organoleptique au service des produits industriels »

Présentation du Projet MetroSens

Setha MITH – Femto-ST/MetroSens

11h45 Visite des moyens de l’atelier pilote de l’IPV

Abdellah Boulouize - Institut Pierre Vernier

12h00 Échanges autour d’un rafraichissement

Renseignements & Inscription auprès de Christine Voirol

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